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    KS107BQ(L)型 切片厚度體模

    型號:

    產品時間:2024-03-20

    簡要描述:

    KS107BQ(L)型 切片厚度體模,用于檢測一維陣列探頭聲束的切片厚度和電子聚焦的聲束形狀。

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    詳細介紹

    KS107BQ(L)型 切片厚度體模,用于檢測一維陣列探頭聲束的切片厚度和電子聚焦的聲束形狀。

    定制體模KS107BQ(L),參數上與KS107BQ 銜接。

    超聲仿組織(TM)材料聲速:  (1540±10)m/s   [(23±3)℃]

    超聲仿組織(TM)材料聲衰減:(0.7±0.05)dB/(cm·MHz)      [(23±3)℃]

    仿組織材料總深度:280mm

    散射靶片層厚度:<0.4 mm

    散射靶片層與聲窗間夾角:70°

    靶線數:27

    相鄰靶線間距:10mm

    靶線直徑:(0.3±0.05) mm

    線靶位置公差:±0.1mm

    可探測深度實際加深到280mm,面板橫向尺寸適度加寬,散射層與聲窗間夾角不變。


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    KS107BQ(L)型 切片厚度體模,用于檢測一維陣列探頭聲束的切片厚度和電子聚焦的聲束形狀。

    定制體模KS107BQ(L),參數上與KS107BQ 銜接。

    超聲仿組織(TM)材料聲速:  (1540±10)m/s   [(23±3)℃]

    超聲仿組織(TM)材料聲衰減:(0.7±0.05)dB/(cm·MHz)      [(23±3)℃]

    仿組織材料總深度:280mm

    散射靶片層厚度:<0.4 mm

    散射靶片層與聲窗間夾角:70°

    靶線數:27

    相鄰靶線間距:10mm

    靶線直徑:(0.3±0.05) mm

    線靶位置公差:±0.1mm

    可探測深度實際加深到280mm,面板橫向尺寸適度加寬,散射層與聲窗間夾角不變。


     


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