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    日本JIMA分辨率測試卡

    型號:

    產品時間:2023-11-23

    簡要描述:

    日本JIMA分辨率測試卡用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。

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    詳細介紹

    日本JIMA分辨率測試卡

    JIMA(日本檢測儀器制造商協會)致力于關注各種檢測儀器,其中包括無損檢測儀器,JIMA分辨率測試卡,用于測量X射線系統的分辨率,以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。


    JIMA RT CT-01日本JIMA分辨率測試卡(專用于三維CT系統分辨率測試)

    測試卡封裝在一個防護盒中

    圖案布局:T型

    線/空間尺寸:5種規格圖案

    3μm, 4μm, 5μm, 6μm, 7μm


    JIMA RT CT-02分辨率測試卡

    測試卡封裝在一個防護盒中

    盒子的外形尺寸(W x D x T):40 x 30 x 5mm

    芯片尺寸(W x D x T):5 x 5 x 0.06mm

    圖案布局:L型

    線/空間尺寸:16種規格圖案

    0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm, 0.9μm, 1.0μm, 1.5μm,

    2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 10.0μm, 15.0μm


    JIMA RT CT-04分辨率測試卡

    測試卡封裝在一個防護盒中

    盒子的外形尺寸(W x D x T):40 x 30 x 5mm

    芯片尺寸(W x D x T):5 x 5 x 0.015mm

    圖案布局:T型

    線/空間尺寸:32種規格圖案

    0.1μm, 0.15μm, 0.2μm, 0.25μm, 0.3μm, 0.35μm, 0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm,

    0.9μm, 1.0μm, 1.5μm, 2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm

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    JIMA RT CT-05分辨率測試卡

    測試卡封裝在一個防護盒中

    盒子的外形尺寸(W x D x T):40 x 30 x 3mm

    芯片尺寸(W x D x T):8 x 8 x 0.2mm

    圖案布局: T型(3-10μm)

              I型(15-50μm)

    線/空間尺寸:16種規格圖案

    3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm (T型)

    15μm, 20μm, 25μm, 30μm, 35μm, 40μm, 45μm, 50μm(I型)



     


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